Intel 18A-P 制程现已进入风险试产阶段，具备更高的性能、增强的热特性，并与 Intel 18A 在设计规则上兼容。

在 2026 年 VLSI（超大规模集成电路）国际研讨会上，英特尔代工介绍了其制程路线图和未来技术创新方面的最新进展。Intel 18A-P 作为 Intel 18A 系列的首个性能增强版本，现已进入风险试产阶段，符合去年首次向客户和合作伙伴公布的时间表。

“我们在 VLSI 研讨会上展示的最新进展和所作的报告，向英特尔代工的客户和合作伙伴传递了一个明确信号：我们长期坚定致力于前沿制程创新。”英特尔代工执行副总裁兼总经理 Naga Chandrasekaran 表示，“这是一段持续推进的旅程，前方仍有更多工作要做。我们很高兴有机会分享我们在 Intel 18A-P 以及更长期研发方面取得的进展。”

Intel 18A-P 的最新进展

得益于晶体管、互连和设计技术的协同优化，Intel 18A-P 在性能、功耗和设计方面均具优势。在 VLSI 研讨会上，英特尔代工的工程师详细介绍了以下技术进展：

• 与 Intel 18A 相比，Intel 18A-P 在相同功耗下性能可提升 9%，或在相同性能下功耗可降低 18%，同时具备增强的热特性，在芯片设计上也更灵活。

• 新增 Power Boost 能效增强技术，这是 Intel 18A-P 的全新双接触、低电阻晶体管方案，可在不增加电容的情况下提升驱动电流，并实现更高的运行频率。

• 通过材料和设计创新，热阻降低了 20%-40%。

• 利用几何和材料优化，过孔电阻（指芯片各层之间的垂直连接）降低了 10%-30%。

• 通过应变工程提升 PMOS 的迁移率，使电流更高效地通过晶体管。

• 新增低功耗与高性能晶体管选项。

• 在 ULVT 和 LVT 之间新增第五组 Vt（逻辑阈值电压）选项，为芯片设计人员提供平衡速度与功耗的额外选择。

• Intel 18A-P 与 Intel 18A 的设计规则完全兼容，可便捷复用现有 IP 和设计流程。

• 与 Intel 18A 相同，Intel 18A-P 提供两种单元高度（180nm 和 160nm），接触栅极间距（Contacted Poly Pitch）为 50nm。

GAA 晶体管和背面供电技术的最新研究

借助 Intel 18A 制程节点，英特尔代工已经将全环绕栅极（GAA）晶体管和背面供电（BSPD）技术推向市场。面向未来的逻辑芯片设计，英特尔的工程团队在 VLSI 大会上探讨了这些技术如何在性能、能效和微缩方面奠定基础：

• 英特尔代工副总裁兼英特尔院士 Eric Karl 展示了英特尔如何量化背面供电和 GAA 晶体管的优势。他指出，这些技术与同类正面互连技术相比，可减少 11% 的布线面积，并将动态压降幅度缩小 10 倍，从而实现高达 6% 的频率提升或超过 15% 的动态功耗降低。

• 英特尔代工硅片与平台工程团队的 Manju Shamanna 分享了基于 GAA 晶体管和背面供电技术制造的 CPU 核心的硅片测试结果。他的研究表明，这两项技术在较低电压下（约 0.5V）可实现约 30% 的频率提升，同时减少了 IR（内阻）压降，运行也更高效。

面向未来的技术创新

英特尔代工还在 VLSI 研讨会上介绍了在多个对未来芯片微缩至关重要的领域的长期研究进展：

• 互补场效应晶体管（CFET）：英特尔展示了单片式 CFET 反相器，其 NMOS 与 PMOS 器件垂直堆叠，栅极间距为 45nm。通过垂直器件架构，英特尔为在 GAA 晶体管之后继续推进逻辑微缩开辟了新路径。

• 面向电源管理的氮化镓 + 硅集成：英特尔展示了 300mm 晶圆上的单片集成技术，将氮化镓功率器件与硅基逻辑（包括一个约 1,000 个逻辑门的数字控制模块）集成在一起，使得高效、大规模的数字控制能够与高性能功率器件在同一工艺下协同工作，并降低系统复杂性。

• 减成法钌互连（Subtractive ruthenium interconnect）：英特尔展示了采用空气间隙集成的减成法钌互连技术，与铜互连相比，电容降低高达约 35%，且频率提升显著，为随着互连尺寸持续缩小而改善电阻电容指标提供了一条可行路径。

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